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  • Dependent binary relevance models for multi-label classification [2013]

    Categoría:
    Artículos
    Autores:
    Eyke Hüllermeier , Juan José del Coz Díaz , José Ramón Quevedo Pérez , José Barranquero Tolosa , Robin Senge , Elena Montañés Roces
    Fecha:
    01 de Enero de 2013
    Es parte de:
    Pattern Recognition