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Dependent binary relevance models for multi-label classification [2013]
- Categoría:
- Artículos
- Autores:
- Eyke Hüllermeier , Juan José del Coz Díaz , José Ramón Quevedo Pérez , José Barranquero Tolosa , Robin Senge , Elena Montañés Roces
- Fecha:
- 01 de Enero de 2013
- Es parte de:
- Pattern Recognition